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微小电阻测量解决方案 | 使用OE8101数字源表进行10 mΩ 级低电阻测量
发布日期:09 Nov 2026
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为什么使用源表进行低电阻测量

传统低电阻测试通常需要精密电流源、数字电压表以及同步触发和数据采集系统。由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,还要处理量程匹配、触发时序、通信同步及总线传输效率等问题,增加了仪器采购、接线和系统集成的复杂度。

源测量单元(SMU)将精密源输出功能与高精度电压、电流测量功能集成于同一台仪器内。OE8101 可独立完成器件测试过程中所需的激励、测量、保护和数据记录等功能,从而减少多台测试仪表之间复杂的编程配置、同步控制、接线连接及总线数据传输。

测量10 mΩ 电阻,本质上是在1 A激励下测量约10 mV的压降。测试线、接插件和夹具的电阻可能比DUT本身更大,不同金属接点存在温差时还会形成微伏级热电势。OE8101具备四象限输出和四线远端感测能力,电压测量的最小分辨率可达8 nV,为本文的逐步排查和改进提供了单机测试基础。


10 mΩ 低电阻的递进测量

▲  测试样品与条件

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数据说明:本文数据为所述仪器、样品和条件下的测量示例,不作为产品保证指标;适用规格及条件见对应版本技术资料。


▲  二线法测量

前面板二线连接

图1  二线法前面板接线


首先采用常规二线法。此时同一对测试线既施加电流又测量电压,接线简单,适合先建立常规测量结果。

【设置】在HOME主界面选择Source为Current,选择Measure为Voltage,将Set设为1 A、Limit设为2 V、Terminals设为Front,点击Sense并选择2-WIRE;Source Range设为1 A、Measure Range设为2 V,选择Continuous。输出稳定1 s后记录电流回读和电压。

二线测量数据示例界面

图2  二线测量数据示例界面


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平均值:686.11 mΩ


结果明显高于10.000 mΩ 参考值。OE8101在二线模式下测得的是FORCE HI与FORCE LO之间的回路电压,因此读数不仅包含DUT压降,也包含高、低端测试线、端子和接触面的压降。对于大电阻DUT,这些附加电阻可能可以忽略;但对于10 mΩ DUT,它们可能主导结果。

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R2W 为二线测得电阻,RDUT 为DUT电阻,其余各项为HI、LO两侧的导线与接触电阻。二线结果还会受到接触位置与夹持压力变化的影响。本实验约676 mΩ的额外电阻来自测试路径。

二线测量原理

图3  二线测量原理:电压读数覆盖整个载流回路


二线法的困境并不是仪器无法分辨毫伏信号,而是电压测量边界包含了两根载流线及其接触点。测试电流I流过DUT的同时,也流过高、低端引线电阻,因此仪器读到的VM 等于DUT压降与全部附加压降之和。当DUT仅为10 mΩ 时,即使每侧只有几十毫欧的线缆与接触电阻,也足以使计算结果远高于DUT真实值。


▲  四线Kelvin法测量

四线法使用FORCE HI/LO向DUT施加电流,使用SENSE HI/LO直接测量DUT两端电压。由于Sense输入阻抗大于10 GΩ,Sense线中电流极小,其线阻压降通常可以忽略;取样点应尽可能靠近标准电阻规定的电压端。

四线kelvin原理

图4  四线Kelvin原理:Force载流,Sense只测量DUT压降


四线法的解决方式:FORCE线仍承担1 A测试电流,允许其自身存在压降;SENSE线则直接落在DUT规定的取样端。由于Sense输入阻抗很高,取样支路电流ISENSE近似为零,Sense线上的压降也近似为零,因此仪器测得 VM ≈ VDUT 。再用实际电流回读值计算 R = VM / I ,测量边界便从“整条载流回路”收缩到“DUT两个Sense点之间”,从而得到更接近真实值的结果。 

前面板四线连接

图5  四线Kelvin法前面板接线


【设置】在HOME主界面将Set设为+1 A、Limit设为21.000 mV、Terminals设为Front;直接点击Sense并选择4-WIRE。Source Range设为1 A、Measure Range设为20 mV,选择Continuous;间隔1 s采集7个读数,舍弃前面2个点后求平均。

四线测量数据示例界面

图6  四线测量数据示例界面


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平均值:10.061 mΩ


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按一年测量准确度规格估算的电阻相对误差限贡献,四线结果相对10.000 mΩ 参考值高约 0.61%,位于本文依据一年规格计算的约 ± 1.1%理论误差范围内。


电流反向法减小电压偏置

四线法可以减小引线电阻的影响,但不能自动消除热电势等附加电压。热电势和源表电压测量通道的直流偏置都可能影响读数。OE8101 支持四象限输出,可在保持接线不变的情况下切换正、反向电流,分别记录对应的电压和电流回读值。当被测电阻及上述偏置在两次采样期间近似不变时,将正、反向电压读数之差除以正、反向电流读数之差,即可抵消稳定电压偏置的影响。

电流反向法消除热电势误差示意图

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图7  电流反向法消除热电势误差示意图


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【操作顺序】0 A → +1 A → 0 A → −1 A → 0 A。每次改变输出后等待相同时间,并使用实际电流回读值计算。OE8101不提供内置Offset Compensation或Delta Mode,数据需由用户记录并手动计算;10.042 mΩ 为方法示例,不是保证指标。


▲  准确度与结果解释

在10 mΩ、1 A 和20 mV 量程条件下,源表按一年准确度规格进行最坏情况线性合成:

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上述理论值不包含标准电阻校准不确定度与温度系数,也不包含线缆、夹具、热电势、环境温度梯度、电磁干扰、DUT自热及接线重复性。


▲  不同类型DUT的测试调整

水泥电阻:通常为两端器件且容差较大,Sense点应固定在靠近本体的同一位置;若为绕线结构,应延长电流切换后的稳定时间。它更适合用于验证测量方法和重复性,不宜仅凭标称值评价绝对准确度。

分流电阻:Force连接大电流端,Sense连接制造商规定的Kelvin取样端,并考虑安装扭矩、铜排散热、额定温升和材料热电势。10 mΩ 分流器可以沿用本文1 A 设置,但应按器件额定功率和温升调整通电时间。


总结

OE8101把电流激励、电压测量、电流回读、保护和数据记录集成于一体。对10 mΩ 级电阻,常规二线测量能够快速暴露测试路径中的附加电阻;改用四线Kelvin连接后,测量边界被限定在Sense取样点之间;在此基础上使用正反向差值,还可减小稳定热电势造成的低电平偏置。本文实验示例的二线平均值为686.11 mΩ、四线平均值为10.061 mΩ,差值结果约10.042 mΩ,展示了三步改进各自解决的问题。

因此,在稳定环境、合理量程、规范Kelvin取样和一致等待时间下,OE8101可用于10 mΩ 级低电阻的精密测量。最终不确定度仍应结合具体DUT、线缆、夹具、温度与校准条件评估。

对于希望以单台仪器完成低电阻测量的研发与验证场景,OE8101值得作为测试平台选用。恒流激励与电压测量集成于一体,可减少独立电流源、电压表之间的接线和协调操作;配合实际电流回读,计算电阻时无需仅依赖源电流设定值。四线远端感测将电压取样位置落实到DUT规定端点,使仪器的测量能力能够更有效地用于毫欧级信号。

OE8101的四象限输出还允许在保持接线不变的情况下切换正、负电流,便于用户记录两种极性的读数并计算差值。前面板触屏可完成源、表、量程及Sense方式设置,适合从手动验证开始建立测试方法。凭借电流激励、电压测量、四线取样与四象限输出的一体化设计,OE8101可简化测试系统的搭建与操作,为毫欧级电阻测量提供紧凑、便捷的单机解决方案。

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